MA 20xx 系列測(cè)試治具適用于對(duì)數(shù)量中等(批量測(cè)試)而變型數(shù)量少的電子組件進(jìn)行觸探。該測(cè)試治具設(shè)計(jì)作為無(wú)內(nèi)部接口的單獨(dú)系統(tǒng),可與現(xiàn)有測(cè)試系統(tǒng)連接,并通過(guò)專門(mén)針對(duì)被測(cè)電子組件而擴(kuò)展的、固定安裝的替換套件運(yùn)行。其具有以下產(chǎn)品特性:
無(wú)內(nèi)部接口的單獨(dú)系統(tǒng)
高達(dá) 2,000 N 的高接觸力
省力的終端位置阻尼開(kāi)啟機(jī)構(gòu)
固定安裝的替換套件
帶或不帶測(cè)試系統(tǒng)接口
使用壽命:500,000 次負(fù)載循環(huán)(在實(shí)驗(yàn)室條件下)